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简易分析
用户有两种方法执行「简易分析」，可以使用于 Patent Search 专利检索结果或是在 Patent Vault 专案中：
检索结果的统计图表
Patent Search 在查询后基于各种数据提供基本分析。按以下步骤操作使用此统计功能：
- 检索结果的页面会在您执行搜寻的动作后显示，如下图。
- 按下「统计图表」图示，您会被带到统计功能的页面。
- 在「资料栏位」您可以看到下拉目录，使用此目录选择您想要包含在「统计图表」的项目。
- 选取资料后，「统计图表」会显示如下图；以下例子中包含两个资料栏。
- 您也可用其他形式做统计图表 (例如「柱状图」等)，但这些统计图表无法使用在以时间为数据的资料。点选「柱状图」的标誌，您亦可以选取其他相关图表。
- 利用左侧筛选选单得出更精准的结果，请点选您欲使用的参数，再按「筛选」即可。若您找不到筛选选单，按左上方箭头，选单即会显现。
